Tunnelointi- ja atomivoimamikroskopialla tarkoitetaan kolmiulotteista pinnantutkimusmenetelmää, jossa kuva saadaan pintaa pyyhkäisevän "neulan" avulla.
Tunnelointimikroskoopissa (STM eli Scanning Tunneling Microscope)käytetään kuvan muodostukseen ohuen metallikärjen ja näytteen välistä sähkövirtaa. Tunnelointimikroskopialla ei ole perinteisen mikroskopian kanssa muuta yhteistä kuin nimi.
Atomivoimamikroskopiassa (Atomic Force Microscope) tutkitaan kohteen pintaa mekaanisesti koskettamalla.
|