Diffraktiota eli aaltojen taipumista esiintyy sähkömagneettisella säteilyllä kuin myös hiukkasilla kuten elektroneilla ja neutroneilla sekä niinkin raskailla hiukkasilla kuten molekyyleillä. Kun säteily tai voimakkaalla sähkökentällä kiihdytetty hiukkanen törmäävät aineen pintaan, vierekkäisistä atomeista kimpoavat säteet ja suihkut moniin eri suuntiin, mutta tietyissä suunnissa tapahtuu niin, että aaltoliikkeet vahvistavat toisiaan eli ovat samassa vaiheessa ja siten muodostavat intensiteettimaksimin tiettyihin suuntiin, jotka voidaan mitata. Tätä käytetään hyväksi röntgenkristallografiassa ja elektonimikroskopiassa. Näillä voidaan tutkia aineen pintarakennetta kuin myös pinnan alla olevan sisäisen rakenteen yksityiskohtia. Tässä yhteydessä käytetään erilaisia tutkimusasetelmia ja siitä johtuu erilaiset laskentatavat. Kun tutkitaan sisärakennetta käytetään ns. Braggin lakia, mutta pintarakenteen tutkimuksessa riittää diffraktiolaki.
|
